Сотрудник кафедры "Физика" принял участие в работе XIII Международного симпозиума по измерительным технологиям и интеллектуальным приборам
Сотрудник кафедры “Физика” кандидат физико-математических наук Шульга Александр Васильевич принял участие в работе XIII Международного симпозиума по измерительным технологиям и интеллектуальным приборам (ISMTII-2017), который состоялся 22 – 25 сентября в Сианьском университете транспорта (г. Сиань, КНР).
В рамках симпозиума прошли пленарное заседание и работа 24 секций, где обсуждались актуальные вопросы прецизионной оптической метрологии, измерительных приборов и устройств. На секции «Оптическая метрология» сотрудником университета сделан доклад «Intracavity laser spectroscopy of waveguide structures» по тематике научных исследований, выполняемых на кафедре, который вошел в пятерку лучших докладов из более 350 представленных работ на симпозиуме (http://www.ismtii2017.com/core/article/index?id=3).
Пятерка лучших докладов
Paper No. 17: In-process measurement on the thickness of photosensitive resin in evanescent wave-based nano-stereolithography Deqing Kong1,a, Masaki Michihata1,b,#, Kiyoshi Takamasu2,c and Satoru Takahashi1,b 1 The University of Tokyo, Komaba 4-6-1, Meguro-Ku, Tokyo 153-8904, Japan 2 The University of Tokyo, Hongo 7-3-1, Bunkyo-Ku, Tokyo 113-8656, Japan
Paper No. 84: Non-contact detection of surface defects by using a micro thermal sensor Yuki Shimizu1,a,#, Yuki Matsuno1,b, Yuan-Liu Chen1,c and Wei Gao1,d 16-6-01 Aramaki Aza-Aoba, Aoba-ku, Sendai, Miyagi, 980-8579 Japan
Paper No. 102: High-precision lateral distortion correction in 2D and 3D optical imaging systems using an arbitrary surface Rong Su1, a, Peter Ekberg2,b and Richard Leach3,c,# 1Manufacturing Metrology Team, Faculty of Engineering, University of Nottingham, Nottingham NG7 2RD, UK 2Industrial Metrology and Optics, Production Engineering, KTH Royal Institute of Technology, SE-100 44 Stockholm, Sweden
Paper No. 128: Intracavity laser spectroscopy of waveguide structures Aleksandr Shulga, Irina Shilova Belarusian-Russian University, pr. Mira 43, Mogilev, 212000, Belarus
Paper No. 133: A method for inspecting double-sided high-sloped structured surfaces based on dual-probe wavelength scanning interferometer Tao Zhang1, a, Feng Gao2,b,# and Xiangqian Jiang3,c 1EPSRC Center, University of Huddersfield, Huddersfield, HD1 3DH, UK 2EPSRC Center, University of Huddersfield, Huddersfield, HD1 3DH, UK 3EPSRC Center, University of Huddersfield, Huddersfield, HD1 3DH, UK
