Размер шрифта

AA

Интервал

AA

Палитра цветов

Изображения


  • Главная
  • Наука
  • Оптика тонких пленок и сред

Физические науки

НАЗВАНИЕ НАУЧНОГО НАПРАВЛЕНИЯ

Оптика тонких пленок и сред

ОСНОВАТЕЛЬ

д-р физ.-мат. наук Хомченко А.В.

НАУЧНЫЕ СОТРУДНИКИ

к. физ.-мат. н. Коваленко О.Е.,
к. физ.-мат. н. Примак И.Я.
к. физ.-мат. н. Шульга А.В.
к. физ.-мат. н. Гузовский В.Г. (РФ)
инженер Е.В. Глазунов (ГНПО «Планар», Минск)
ассистент Василенко А.Н.
ассистент Корнеева И.А.,
ассистент Чудаковский П.Я.

ОСНОВНЫЕ ЗАДАЧИ НАУЧНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ

  • волноводная спектроскопия тонких пленок и оптика наноразмерных структур;
  • нелинейная оптика тонкопленочных структур;
  • оптические методы контроля параметров тонких пленок и сред.

ИСТОРИЯ НАПРАВЛЕНИЯ

В течение многих лет под руководством А.В. Хомченко ведутся теоретические и экспериментальные исследования, направленные на разработку эффективных методов контроля параметров тонких пленок, сред и наноразмерных структур. В 2005 г. в университете создана научно-исследовательская лаборатория оптики тонких пленок и сред, где работы проводятся в рамках Государственных программ научных исследований «Электроника» и «Фотоника», «Техническая диагностика», Государственной научно-технической программы «Машиностроение», отдельных проектов и договоров с предприятиями республики. Сотрудниками лаборатории разработаны и внедрены в производство аппаратные комплексы для контроля качества панорамных и закаленных гнутых автомобильных стекол, выпускаемых на УЧПП «КУВО» (г. Могилев) для автомобильной и тракторной техники республики Беларусь и Российской Федерации, ряд разработок внедрен в учебный процесс.

Создана и аттестована в Центре стандартизации и метрологии Лаборатория оптических измерений для контроля параметров средств индивидуальной защиты глаз при проведении сварочных работ, разработаны установки, методики испытания и аттестации установок, которые используются для сертификации в рамках единого таможенного пространства средств индивидуальной защиты глаз при проведении сварочных работ.

На основе полученных научных результатов был разработан ряд устройств и методик для контроля параметров многослойных структур, что позволило изготавливать системы оптических фильтров для ремонта медицинского диагностического оборудования, заказчик РУП «Медтехника».

Научные исследования проводятся совместно с сотрудниками Могилевского государственного университета, Могилевского государственного университета продовольствия, Института физики НАН Беларуси, Института прикладной физики НАН Беларуси, Института физики НАН Украины, Самарского филиала Физического института им. П.Н. Лебедева РАН.

Результаты исследований опубликованы более чем в 200 научных работах, в т.ч. в ведущих журналах республики, ближнего и дальнего зарубежья, обобщены в 1 докторской, 3 кандидатских диссертациях и 2 монографиях.

ЦЕНТРЫ И ЛАБОРАТОРИИ

  1. Лаборатория оптических измерений (а.301/4)
  2. Лаборатория оптики тонких пленок и сред (а.301/2)

ОСНОВНЫЕ НАУЧНЫЕ ПУБЛИКАЦИИ

  1. Хомченко А.В. Волноводная спектроскопия тонких пленок. Основные принципы и техника эксперимента / А.В. Хомченко. Минск: Изд. БГУ. -2002. -223с.
  2. Khomchenko, A. Waveguide spectroscopy of thin films / A. Khomchenko. New York: Academic Press. – 2005.- 220с.
  3. Редько, В.П. Метод определения комплексных постоянных направляемых мод планарных волноводов / Редько В.П., Романенко А.А., Сотский А.Б, Хомченко А.В. // Письма в Журнал технической физики. -1992. -Т.18, в.4. - С.14-18.
  4. Khomchenko, A.V. Influence of substrate on optical waveguide properties / Khomchenko A.V., Red’ko V.P. // Guides-Wave Optics. Proc. SPIE. - 1993. - Vol.1932. - P.14-23.
  5. Сотский, А.Б. Параметры отраженного пучка при призменном возбуждении кубично нелинейного волновода / Сотский А.Б., Хомченко А.В., Сотская Л.И. // Оптика и спектроскопия. - 1995, - Т.78, №4. - С. 502-511.
  6. Khomchenko, A.V. Toward the optimization of integrated - optical sensors / Khomchenko A.V., Sotsky A.B., Primak I.U. // Fibre optics and photonics: Proc. International conf. “Photonics 96” / McGraw-Hill publishing company. – Madras, 1996. -Vol.2, - P.1006-1010.
  7. Хомченко, А.В. Структура и нелинейные оптические свойства селенида цинка / А.В. Хомченко // ЖТФ. - 1997. - Т.67. № 9. - С.60-63.
  8. Примак, И.У. Интегрально-оптические датчики с регистрацией коэффициента отражения в схеме призменного возбуждения / Примак И.У., Сотский А.Б., Хомченко А.В. // Письма в ЖТФ. - 1997. - Т.23. № 13. - С.46-57.
  9. Сотский, А.Б. Анализ распределения интенсивности отраженного пучка в схеме призменного возбуждения диэлектрических волноводов / Сотский А.Б., Романенко А.А., Хомченко А.В., Примак И.У. // Радиотехника и электрон. 1999. Т.44, №5. С.1-9.
  10. Хомченко, А.В. Интегрально-оптический полупроводниковый датчик на основе призменного устройства связи / Хомченко А.В., Глазунов Е.В., Примак И.У, Редько В.П., Сотский А.Б. // Письма в ЖТФ. - 1999. - Т.25. в.24. - С.11-18.
  11. Sotsky A.B., Primak I.U., Khomchenko A.V., Tomov A.V. Sensitivity of integrated optical sensors based on a prism coupler // Optical and Quantum Electronics. -1999.- Vol.31, №2. - P.191-200.
  12. Хомченко А.В. Нелинейность оптических свойств тонких пленок при низкой интенсивности света // ЖТФ. - 2000. - Т.70, вып.11. - С. 136-139.
  13. Хомченко А.В. Волноводная спектроскопия тонких пленок //Письма в ЖТФ. - 2001. - Т.27, в.7. - С.17-25.
  14. Хомченко А.В., Глазунов Е.В. Оптическая нелинейность в тонких пленках при низкой интенсивности света // ЖТФ. - 2001, - Т.71, в.9. - С.66-72.
  15. Хомченко А.В., Сотский А.Б, Романенко А.А, Глазунов Е.В., Костюченко Д.Н. Определение оптических параметров тонких пленок в схеме призменного возбуждения мод // Письма в ЖТФ. -2002.- Т.28, вып.11. - С.51-57
  16. Khomchenko A.V., Glasunov Е.V. Interface effect on the nonlinear optical properties of thin films // Optical and Quantum Electronics. -2002.- Vol.34, №4. - P.359-368.
  17. Khomchenko A.V. m-lines technique application for studying of optical nonlinearity in thin films at low light intensity. // Optics Communications. -2002. - Vol.201, № 4-6. - P.363-372.
  18. Khomchenko A.V. Spatial Fourier spectroscopy of guided modes in low dimensional structures // Applied Optics. -2002. -Vol.19,№22. -P.4548-4551.
  19. Редько В.П., Хомченко А.В., Юревич В.А. Автомодуляция лазерного излучения, отраженного от двухслойной резонансной среды // Доклады НАН Беларуси. - 2003. - Т.47, № 1. - С.69-73.
  20. Сотский А.Б Хомченко А.В. Расчет автоколебаний в схеме призменного возбуждения нелинейного опт. волновода // Доклады НАН Беларуси. - 2006. - Т. 50, №4. С.33-37
  21. А.Б. Сотский, А.В. Хомченко, А.В. Шульга, Л.И. Сотская, В.В. Хомченко. Измерение спектра интенсивности светового пучка волноводным методом // Письма в ЖТФ . -2005. - Т.31, в.8. - С.88-94.
  22. А.В.Хомченко, А.Б.Сотский, А.А.Романенко, Е.В.Глазунов, А.В.Шульга Волноводный метод измерения параметров тонких пленок // ЖТФ. - 2005. - Т.75, в.6. -С.98-106
  23. В.Г. Гузовский, О.Е. Коваленко, А.В.Хомченко Нелинейные явления в наноразмерных структурах CdSe/ПЭТФ // Вестник МГУ им А.Кулешова 2007- №2-3. С158-163
  24. А.В.Хомченко, Е.В. Глазунов, Л.В. Жолобова. Контроль параметров тонкопленочных структур методом пространственной фурье-спектроскопии волноводных мод // Вестник БРУ. - 2008. - № 2, С.98-105
  25. A.V. Shulga, Khomchenko A.V.A.B. Sotsky. Laser beam profiling by waveguide technique //2010 Academic Symposium on Optoelectronics and Microelectronics Technology. China, 28.07-01.08.2010 / Harbin Institute of Technology – P.178-181
  26. О.Е. Коваленко, А.В. Хомченко, В.Г. Гузовский, И.А. Корнеева Влияние газовых примесей на фотоэлектрические свойства тонкопленочных наноструктур полупроводник – диэлектрик // Вестник Могилевского государственного университета. – 2012. № 2 (40). – С. 71 – 78.
  27. А.В. Хомченко, Примак И. У., Кульбенков В. М. Войтенков А. И. Гузовский В. Г. Коваленко О. Е. Зайцев А. В. Оптические методы контроля распределения механических напряжений в автомобильных закаленных стеклах // Вестник Белорусско-Российского университета -2013. - №4. С. 1-8
  28. А.В. Шульга, А.В. Хомченко Измерение ширины спектра излучения волноводным методом // Журнал прикладной спектроскопии – 2013. – Т.80, № 6. – С. 937-940.

ОСНОВНЫЕ НАУЧНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ И КОММЕРЧЕСКИЕ ПРЕДЛОЖЕНИЯ

Основные научные резульаты

Развиты экспериментальные основы волноводной спектроскопии тонких пленок, включая методы и средства измерения линейных и нелинейных спектрально-оптических параметров тонких пленок. Предложены новые методы измерения параметров тонких пленок: метод пространственной фурье-спектроскопии волноводных мод и метод, основанный на регистрации угловой зависимости коэффициента отражения светового пучка при возбуждении в исследуемой структуре волноводных либо вытекающих мод. Созданы измерительные установки. Разработаны методы формирования анизотропных тонкопленочных волноводов и методы контроля параметров тонкопленочных структур и лазерных пучков.

Обнаружены новые эффекты гигантской оптической нелинейности в тонких пленках при низкой интенсивности света и автомодуляции отраженного лазерного излучения при возбуждении волноводных мод тонкой пленки.

Обнаружена высокая фоточувствительность некоторых квантово-размерных систем, исследованы особенности строения их зонных структур; спектры фотопроводимости, поглощения, вольтамперные, люкс-амперные и временные характеристики; установлены основные механизмы воздействия электрического поля и низко интенсивного лазерного излучения на их оптические характеристики.

Предложены новые методы фотомодуляционной спектроскопии для определения оптических постоянных тонких пленок и их фотоиндуцированных изменений.

Коммерческие предложения:

  1. Технология контроля механических напряжений в закаленных автомобильных стеклах;
  2. Контроль параметров тонкопленочных структур;
  3. Контроль параметров металлических нанослоев;
  4. Сертифиация защитных щитков, масок и очков

КОНТАКТЫ С РУКОВОДИТЕЛЕМ ШКОЛЫ

Хомченко Александр Васильевич Тел.: +375 (0222) 25-36-74 E-mail: